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NI引進ATE數位功能至開放式PXI平台

發布日期:2016/08/19 關鍵字:PXIe-6570NI Digital Pattern EditorPXI

國家儀器(NI)近期推出NI PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor。此產品藉由引進數位測試範例,至半導體測試系統(STS)採用的開放式PXI平台中,讓RFIC、電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC的製造商,不再受限於傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉架構。

NI半導體測試副理Ron Wolfe表示,PXI Digital Pattern Instrument對STS而言相當重要,此儀器提供工程師他們原以爲僅有高階數位測試平台,才具備的所有數位功能。產線上的PXI只要具備此項功能,工程師便能滿足先進裝置在價格與測試上的需求,並且輕鬆套用至自身目錄的其他產品。

最新半導體裝置的需求不斷超出傳統ATE的測試範圍。藉由引進半導體產業所建立的數位測試範例,至STS採用的開放式PXI平台中,並運用強大好用的波形編輯器與除錯工具加以改良,使用者便能利用先進的PXI儀器減少測試成本,並提升RF與類比爲主IC的傳輸率。

NI PXIe-6570數位波形儀器,針對無線裝置供應鏈與物聯網裝置上常見的IC,提供所需的測試功能與實惠的價格(以每針腳計算)。此儀器運用獨立電源與擷取引擎,能夠以每秒100 MVector的速度執行波形,並且具備可在單一子系統中達成高達256個同步數位針腳的電壓/電流參數函式。使用者能夠利用PXI與STS的開放特性,依據需求新增無限多個裝置,藉以達成測試設定的針腳與地點數量需求。

NI網址:www.ni.com

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