熱門關鍵字:高頻 | PCB | 藍牙5 | NB-IoT | AI

訂閱電子報

立刻輸入Email,獲取最新的資訊:

收藏功能:
分享報新知:
其他功能:

太克推出S540功率半導體測試系統

發布日期:2016/11/08 關鍵字:SiCGaN48針腳

太克(Tektronix)近期宣布推出Keithley S540功率半導體測試系統,這是為高達3kV的功率半導體裝置和結構,提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導體材料,包括碳化矽(SiC)和氮化鎵(GaN),搭配使用而進行最佳化處理,可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試。

隨著對功率半導體裝置的需求不斷提高,同時,SiC和GaN也日益商業化,製造商正在生產製程中採用晶圓級測試,以有效提升良率並改善盈利能力。針對這些應用,S540顯著地縮短了測試時間和測試設定時間,並減少了占用空間,同時實現了實驗室級高電壓量測效能,進而降低了擁有成本。

Tektronix Keithley產品系列總經理Mike Flaherty表示,許多晶圓廠正使用自訂的混合測試系統來執行功率半導體測試,在從低電壓測試轉向高電壓測試時,需手動變更測試設定,這卻會增加製程步驟並拖慢生產速度。相較之下,S540是一款完全整合的解決方案,特別適合必須迅速測試各種裝置的生產環境。

為提供生產級效能,S540可在高達48針腳上執行參數量測,而不須更換電纜或探棒卡設施,還可執行高達3kV的電晶體電容量測,如Ciss、Coss和Crss,而無須手動重新配置測試針腳。

研討會專區
熱門文章