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愛德萬測試將於東南亞SEMICON展ATE解決方案

發布日期:2017/04/20 關鍵字:TDR 系統LSI 失效分析技術東南亞國際半導體展

愛德萬測試(Advantest)將在位於東南亞國際半導體展(SEMICON Southeast Asia)的攤位,展示最新半導體 測試解決方案。東南亞國際半導體展將於 2017 年 4 月 25 ~27 日假馬來西亞檳城體育館(SPICE Arena)盛 大展開,愛德萬測試為本次大會的銀級贊助商。

愛德萬測試本次參展以量測互聯網世界及其事物(Measure the Connected World and Everything in It)為主 題,於 B139 攤位展示 EVA100 量測系統,該系統無論是針對設計,還是產品的量測作業,都採用相同 的測試序列,客戶得以在整個作業過程中建立標準化的量測環境,大幅縮短產品上市的時程。

EVA100 系統採用訴諸於直覺的圖形化輔助使用者操作介面(GUI),故不需要複雜的程式語言。愛德萬測 試將在攤位內外舉行多場會議,和與會貴賓討論 EVA100 與該公司多元的 ATE 解決方案產品組合。

此外,愛德萬測試資深研發暨應用工程師 Shang Yang 博士,將於 4 月 26 日在 IC 失效分析論壇(IC Failure Analysis Forum),發表運用超高解析度 TDR 系統之高密度 LSI 失效分析技術(High-Density LSI Failure Analysis Technology Using an Ultra-High Resolution TDR System)論文。

不僅如此,愛德萬測試職員應用工程師 Tuttipattu Ramaswamy Sujanandan,也將於 4 月 27 日在產品與 系統測試論壇(Product & System Test Forum)發表物聯網--創造經濟合算的多測試埠 RF 解決方案(IoTCreating a Cost Effective High MultiSite RF Solution)論文。

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