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NI發布新款VST基頻模組 測試範圍涵蓋5G/802.11ax

文‧陳妤瑄 發布日期:2017/09/19 關鍵字:LTE-Advanced Pro收發器測試EVM測試載波聚合

國家儀器(NI)近日發布第二代向量訊號收發儀(VST)的基頻模組PXIe-5820。該PXIe-5820模組擁有1GHz最大頻寬的向量訊號基頻能力,可分析5G、802.11ax與LTE-Advanced Pro等最新無線標準。

NI技術行銷經理潘建安表示,消費性電子端的客戶基本上不太需要進行基頻測試,而是直接進行模組安裝,故該PXIe-5820基頻模組主要是針對半導體客戶,像是手機或Wi-Fi模組的收發器(Transciever)與基地台的基頻測試。透過與PXIe-5840 RF VST搭配,該基頻模組更將可進一步進行IQ訊號、收發器、射頻模組的測試。

此外,該方案還可搭配NI RFmx測量軟體與NI-CLK專利技術使用。RFmx量測軟體可以協助PXIe-5820偵測多標準下的快速除錯(Debug)解決方案,提供相當優異的動態範圍測試,而NI T-CLK技術則能精準地同步RF封包追蹤(Envelope Tracking RF)與基頻硬體量測。

NI RF與無線測試市場資深團隊經理Raajit Lall表示,無線技術如今正在挑戰半導體設計與設計,其中最為明顯的是,無線標準變得更形複雜,在2000年至2015年間所增長的無線標準非常的多,包括GNSS、NFC、藍牙、802.11等,而這樣的趨勢,將會持續一路延燒到2020年5G標準的訂定,也勢必會有更多的技術整合在單一的晶片當中。

802.11ax、LTE-Advanced Pro、5G這些新興的技術,目前正在翻轉半導體測試領域,讓測試儀器的需求有了天翻地覆的改變。像是802.11ax對EVM測試有很嚴格的要求,傳統儀器無法滿足需求,且其160MHz的強制寬廣頻段測試,也同時需要數位預失真技術(Digital Pre Distortion),這將創造出全新的測試需求。

在LTE-Advanced Pro的部分,由於多種載波聚合的不斷加入,測試範圍也不斷增加,將讓測試時間將變得更長,載波聚合也從25個載波,尋求可以升級到32個載波,進而帶動了大頻寬的測試需求。而在5G的部分,其將可望帶來全新的調變技術與演算法,因此無論是ATE端或實驗室端,都在尋求新的測試解決方案,這將可望帶來進一步的換機潮。

Lall進一步表示,由於客戶希望能在同樣機箱下,放入更多功能,並減少跨儀器之間的速度,才得以加速測試速度與產品量產時的產能,因此該收發儀無論是在EVM、頻譜效率,還是尺寸面積上的表現都是非常好的。

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