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安立知/工研院共建400GE測試平台

發布日期:2017/09/27 關鍵字:光頻譜分析儀矽光子高速光電元件

工研院擬於2017年底前完成高速量測實驗室建置,將成為亞洲400GE&Silicon Photonics相關應用的測試實驗室,對於台灣未來計畫發展成為高速光電元件研發重鎮的目標注入了一劑強心針。該實驗室也將開放接受產學研各界進行所需量測之委託服務,工研院將率先與安立知(Anritsu)合作,提供單通道測試速率最高可達56Gbaud PAM4以及56Gbit/s NRZ之誤碼率分析測試系統。

工研院電光系統所副所長高明哲表示,在即時影音需求帶動下,網路流量不斷成長,雲端數據中心(Data Center)急需400G Ethernet傳輸介面支援,以因應爆炸性的網路流量成長。工研院將進行對應雷射元件、光電二極體和矽光子開發研究,提供400G所需的光學元件與收發器技術,進而提升台灣產業能力。

安立知總經理陳逸樺表示,安立知很榮幸能與工研院合作,此一合作驗證了MP1800A訊號品質分析儀的誤碼測試能力,同時肯定了該公司長期致力光纖通訊與高速電路領域的成果。

該測試系統結合了包含寬頻光頻譜分析儀(Optical Spectrum Analyzer)、高精密度脈衝波型產生器(PPG)以及高靈敏度誤碼偵錯分析模組(ED),能夠提供高品質反應速度(Fast Tr/Tf)、低訊號抖動與雜訊(Low Jitter&Noise)以及高振幅(High Amplitude)的PAM4/NRZ 測試訊號輸出,並且支援高靈敏度、即時性的誤碼偵錯分析功能。對於高速雷射收發模組以及矽光子(Silicon Photonics)等相關元件,可準確分析其特性以及發射與接收能力。

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