通用序列匯流排(USB)步入3.0以後，其直逼5Gbit/s的傳輸速率，不但創造潛力應用的想像空間，也帶來量測挑戰。為突破高速互連之挑戰，以及節省量測所需時間，日前量測廠商推出高度整合之量測解決方案，盼有效克服上述難題。
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| 安捷倫電子量測事業群產品經理真鍋秀一表示，高度整合之單一量測解決方案，可為設計人員節省不少操作時間。 |
安捷倫(Agilent)電子量測事業群產品經理真鍋秀一指出，不僅USB 3.0朝向高速傳輸速率邁進，其他傳輸介面如高畫質多媒體介面(HDMI)、DisplayPort亦不斷演進，無不刺激量測儀器性能與時俱進，也迫使量測廠商提供更快速、更高效能以及更符合操作模式之產品。
舉例來說，為提高工程人員之工作效率，高度整合、一機多工之量測儀器的需求便在近期水漲船高。真鍋秀一指出，如該公司日前推出將時域反射(TDR)整入網路分析儀中，以單一產品同時完成多種訊號分析，進而協助設計人員快速完成高速互連產品之測試。他並強調，透過將時域分析納入網路分析儀，可節省工程人員在測試時插拔不同儀器之不便，而一機多工之特性也節省不少採購支出，可謂一舉多得。
目前網路分析儀多為測量被動與主動元件之線性、非線性特性，並藉此測量各元件之掃描頻率及功率訊號大小，以分析元件的特性。而TDR則是發送高頻脈衝穿過通道，然後檢查反射脈衝以判斷線路中存在之問題，對於分析印刷電路板(PCB)接線異常、模擬頻寬表現、眼圖與S參數等均有助益。
