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安捷倫推出AXIe架構BERT 強攻高速I/O測試

文‧林苑卿 發布日期:2014/01/24 關鍵字:Keysight TechnologiesPCIe 4.0USB 3.1BER光纖

AXIe模組化測試儀器將加速滲透超高速傳輸介面市場。PCIe(PCI Express) 4.0、通用序列匯流排(USB)3.1等新一代數位傳輸介面傳輸速率大增,導致訊號完整性測試的挑戰加劇,有鑑於此,安捷倫(Agilent)已採用AXIe模組化架構開發誤碼率測試儀(BERT),助力研發和測試工程師克服接收器測試窒礙。

安捷倫電子量測儀器事業群數位和光學測試部門市場行銷經理Joachim Peerlings表示,該公司未來將持續以AXIe模組化架構開發BER測試儀,迎合客戶對接收器測試儀器在性能和低耗電的要求。
安捷倫電子量測儀器事業群數位和光學測試部門市場行銷經理Joachim Peerlings表示,雲端服務與資料中心的快速發展,使得數據流量大幅激增,連帶促使高速數位傳輸技術不斷朝向更大頻寬演進,造成工程師在洞察電腦、消費性電子、伺服器、行動運算和資料中心等產品的效能邊限時,面臨極大挑戰。

特別是個人電腦(PC)配備的傳輸介面亦將改朝換代,PCIe 4.0和USB 3.1兩大新興的傳輸介面即將接掌主流地位,然其傳輸速率將分別高達16GT/s和10Gbit/s;且新的128/130位元和128/132位元編碼格式,更使得錯誤偵測與迴圈(Loopback)碼型產生變得極其複雜。

至於資料中心方面,亦將陸續配備100 Gb乙太網路(Ethernet)、CEI(Common Electrical I/O)、光纖通道(Fiber Channel)等超高速傳輸介面,因此伺服器和儲存設計的背板及網路埠必須支援更大的頻寬,以因應快速暴增的資料中心流量,如要求PC板、纜線或光纖互聯裝置必須提供25Gbit/s或更高的多通道資料速率。Peerlings指出,在測試25Gbit/s接收器埠時,工程師須借助新的測試功能來分析高速數位裝置的干擾、通道損耗和交互干擾容忍度。

著眼於行動裝置、PC及資料中心搭載新一代超高傳輸介面後,在接收器埠將面臨多重的測試關卡,安捷倫遂發布首款採用AXIe模組化架構開發的誤碼率測試方案—J-BERT M8020A,其兼顧擴充性和延展性,並可滿足未來的測試需求。Peerlings強調,相較於PXIe模組化架構,AXIe模組化測試儀器將能提供更高效能與更低功耗的優勢,以迎合新一代超高速傳輸介面的測試要求。

J-BERT M8020A可提供最高的整合性,如內建抖動注入、8分接(Tap)、干擾源等特性;以及能針對訊號狀況進行自動化現場校驗,確保準確且可重複的量測結果;可當作待測裝置的鏈路夥伴,並支援PCIe裝置的互動鏈路訓練,因此可減少設定迴圈測試模式的時間與精力。基於上述條件,該測試產品可快速準確測試傳輸速率高達16Gbit/s和32Gbit/s的單通道和多通道接收器,並進行特性分析。

Peerlings進一步補充,在模組化儀器已為大勢所趨之下,該公司未來將會持續針對製造和研發端的測試要求,分別開發出PXIe和AXIe兩種架構的測試儀器方案,以滿足不同市場所需。

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