凌華科技將於6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳，舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」，偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用，以加速產品開發及專案時程。現場並展出半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、馬達動平衡與多媒體音頻測試等動態時機展示。
研討會內容介紹PXI模組化儀器產品在高速高精度訊號量測應用，包括多媒體裝置的音頻檢測方案、高效率電子元件測試解決方案、與振動量測應用於自動化廠房機台故障預測；再從PXI架構談多測試項目的整合與自動化，以及如何運用PXI來實現高速與高精度的電源供應和測量，最後再談PXI於半導體測試之應用等。從各式量測需求探討如何在追求高精度的同時，達到降低測試成本、提升測試效率，以及透過各產業案例，以深入淺出的方式說明最新量測技術、趨勢與應用。
除了分享量測的關鍵技術與趨勢之外，現場多達七套動態實機展示，使與會者將更清楚地了解實際的量測應用。展示內容包含：半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、機械故障預測、與多媒體音頻測試等。
凌華網址：www.adlinktech.com
