「資料擷取技術-應變量測與資料記錄器實作」研討會即將展開

2006 年 01 月 27 日

資料擷取是工業量測與監控的基礎,隨著產業自動化腳步的加快,市場對於品質要求大幅提升,產品各階段的測試也隨之而生。在面對效能與產出日益嚴苛的要求,如何有效地整合企業內部量測設備,完成所需的繁雜測試與監控工作,便成為工程師們的最大挑戰。
 

美商國家儀器(National Instruments, NI)與巨克富科技(Chief Technology)於2006年2月14日(二)假新竹科技生活館舉行「資料擷取技術-應變量測與資料記錄器實作」研討會,從基礎教您如何輕鬆完成資料擷取技巧、現場實務演練、實際案例展示等技術交流,滿足您在工作上的需求。
 

會中將介紹如何利用圖控開發工具LabVIEW輕鬆地完成基本的資料擷取工作、巨克富科技更從實務的角度介紹如何處理IC電子產業經常面臨的應變量測需求,更將以實際案例展示PCB主機板的應變量測。會中更將進一步說明如何將資料擷取功能,延伸成為一個可以「長時間收錄各種不同訊號」的資料記錄器,彈性因應實際工作時可能面臨的不同量測狀況需求。
 

國家儀器網址:www.ni.com/taiwan
 

標籤
相關文章

凌力爾特發表高壓端電流感測放大器

2007 年 12 月 14 日

加爾發推出無線智慧整合解決方案

2012 年 12 月 18 日

Altera/ARM拓展SoC開發工具策略合作

2014 年 10 月 06 日

恩智浦任命陳奎亦擔任台灣區總經理

2017 年 05 月 19 日

盛群推出BH66F2663阻抗相角量測MCU

2020 年 11 月 20 日

2024年台北國際光電週10月23日揭開序幕

2024 年 10 月 08 日
前一篇
晶門贊助世界自然基金會「海洋十寶」教育項目
下一篇
SED半路殺出 FPD市場醞釀洗牌
最新文章

挑戰七埃米製程 imec提出雙列CFET結構

2024 年 12 月 09 日

AI PC銷量上看億台 小型語言模型蓄勢待發

2024 年 12 月 09 日

XR產業協會理事長鄭育鎔:智慧頭戴裝置內容為王

2024 年 12 月 09 日

頻寬需求不等人 CPC技術另闢蹊徑

2024 年 12 月 09 日

先進晶片驅動AI PC蓬勃發展

2024 年 12 月 09 日