介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

取樣速率提高並降低雜訊 Δ-Σ轉換器應用擴大

2006 年 09 月 28 日

ESL設計加速軟硬體整合 虛擬系統原型扮演要角

2006 年 10 月 27 日

加入陀螺儀與傾斜感測器 數位三軸角度儀測量快又準

2012 年 03 月 05 日

抓取機器人整合3D視覺軟體 汽車發動機缸蓋搬運精準高效

2016 年 03 月 31 日

導入黏著式晶圓接合技術 SAW濾波器實現高良率封裝

2014 年 11 月 06 日

無軟體技術展妙用 三相BLDC馬達效能再提升

2017 年 02 月 20 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器