介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

突破散熱及電源控制瓶頸 LED照明技術渠成

2006 年 06 月 12 日

3G/3.5G量測邁向整合 軟硬兼施的解決方案為大勢所趨

2006 年 10 月 03 日

掌握晶片/封裝技術 LED主照明設計邁大步

2009 年 08 月 21 日

差動訊號介面風行 ESD保護設計挑戰大

2009 年 08 月 27 日

兼容ISO標準與當地產業特性 中國大陸電動車標準鉅細靡遺

2012 年 02 月 23 日

延長LED/功率元件壽命 氮化鋁基板備受矚目

2014 年 12 月 01 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器