介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

提升客觀畫質評估 人類視覺模型功不可沒

2009 年 11 月 30 日

搭配需量反應機制 智慧電網實現電廠/用戶雙贏

2012 年 05 月 07 日

模擬/測試工具雙出擊 5G射頻系統設計再簡化

2019 年 02 月 19 日

自動駕駛感測融合限制大 純視覺路線成本效益突出

2025 年 06 月 26 日

克服DRAM微縮/耗電難題 無電容IGZO DRAM興起

2025 年 07 月 14 日

以Wi-Fi 8引領未來(2) 技術創新強化通訊可靠度

2025 年 07 月 21 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器