介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

開啟家庭影音娛樂新視野 多功能ADC嶄露頭角

2008 年 11 月 27 日

突破功耗/系統整合瓶頸 行動立體顯示大有看頭

2011 年 07 月 18 日

解決LTE測項遽增難題 非信令儀器躍居產線主流

2012 年 10 月 01 日

增加晶圓缺陷可見性 對應分析加速良率提升

2017 年 09 月 16 日

再生能源滿足ESG供電需求 太陽能系統配置五花八門

2022 年 11 月 24 日

結合GPS與星座架構 低軌衛星定軌更快速(2)

2024 年 05 月 22 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器