介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

液晶顯示器偏壓電源供應 整合型元件嶄露頭角

2005 年 07 月 13 日

太陽能輔助供電再上層樓 DPPM強化鋰電池充電效率

2007 年 08 月 24 日

高效能PPTC/ESD保護元件助力 遊戲機高速介面訊號更完整

2014 年 05 月 15 日

揮發性化合物氣體感測 空氣品質監控有一套

2018 年 12 月 24 日

加速打造邊緣智慧應用 整合/開放/多元為關鍵

2019 年 12 月 30 日

在SoC中實現異質整合 CMOS 2.0開闢新道路(2)

2024 年 12 月 18 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器