介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

順應服務閘道增多潮流 分散式CPU架構趁勢崛起

2009 年 04 月 09 日

整合ZigBee/MCU 無線照明控制提高節能效益

2013 年 01 月 02 日

提高能效/擴大頻寬 DRAM朝3D堆疊架構邁進

2014 年 04 月 07 日

結合混沌加密技術 居家保全系統防衛大升級

2019 年 12 月 19 日

連結資料紀錄器/磁力感測器 地磁紀錄器設計達陣

2021 年 11 月 29 日

改良電路設計/採用通用傳輸規格 反馳式充電器效率提升有感

2022 年 01 月 30 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器