因應產品測試複雜度大幅增加 安捷倫推展更具效率測試方案

作者: 蔡雅萍
2006 年 10 月 30 日

日前由安捷倫所舉辦的「2006安捷倫數位量測論壇」,探討多種數位技術量測解決方案,並將於首爾、北京、上海、班加羅爾以及新德里等地區進行巡迴論壇活動。其中特別探討採用賽靈思(Xilinx)的FPGA嵌入式設計,可縮減50%驗證時間、藉由先進設計系統(Advanced Design System, ADS)整合至儀器,進行完整設計訊號測試、並與Silicon Image合作投入HDMI 1.3版規格測試,運用安捷倫的脈衝波形產生器以及軟體進行測試,可達到硬體控制自動化,上述多種先進量測技術相繼注入市場,也可加速電子產品新世代到來。
 

ADS將成量測最佳幫手
 

安捷倫數位驗證市場行銷經理杜吉偉表示,該公司與賽靈思的FPGA合作中,包含各種硬體與軟體核心、特殊多媒體處理器(DSP)模組以及高速嵌入式處理器等,並運用安捷倫的核心軟體與FPGA結合,達到自動化量測以及簡化量測過程。此外,在高速記憶體除錯與錯誤測試方面,全緩衝式記憶體模組(Fully Buffered DIMM, FBD)運用安捷倫的邏輯分析儀連結到記憶體匯流排之中,由於FBD連結速度十分快速,傳輸率可達4.8GHz,不僅可讓印刷電路板(PCB)串連更為便利且快速,並可利用示波器檢測訊號完整性,如依照JEDEC標準進行時脈訊號檢查。
 

除具備強大的硬體技術架構之外,安捷倫也推出先進設計系統軟體解決方案,針對目前各種無線技術標準紛紛現身於市場,同一電子產品導入多種無線技術的複雜測試環境,以及技術研發時間大幅縮減,如運用先進設計系統可不需經由硬體的方式,擷取待測物的數據資料,並使用先進設計系統直接進行分析,如此一來,將可在技術硬體尚為完成之前,進行預先測試,最後再與完成的硬體加以整合重覆測試,以符合測試的需求。
 

杜吉偉指出,先進設計系統不僅可讓產品設計更為精準,在技術趨於高速率的測試環境之下,由於速度太快的不可控制性,大幅增加測試的困難度,而該系統正可因應上述測試巨大變革的需求,例如手機可運用FPGA整合射頻與基頻的部分,採用即時頻譜分析儀的方式,可將測試認證項目寫入FPGA中,再利用安捷倫的先進設計系統加以測試。
 

另外,這項先進設計系統也擁有正確模擬工具以及資料庫等功能,例如多層互連資料庫,可讓客戶在產品製造之前,進行產品設計模擬分析以及高速互連等測試,有效降低產品研發成本。
 

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