安捷倫將舉辦光通訊量測技術研討會

2009 年 02 月 16 日

安捷倫科技即將在2月26日於新竹煙波大飯店舉辦為期半日的光通訊量測技術研討會,研討會內容將自光通訊市場之發展與未來的探討、光通訊被動元件測試解決方案,到被動光纖網路PON之測試挑戰。
 



在高速寬頻網路傳輸的時代,光通訊系統的布建乃是近年來通訊業最重要的課題之一。自從2002年光通訊市場迅速的泡沫化之後,全世界之電信網路便逐漸回到基本面來面對問題,此刻,被動式光纖網路(PON)便成為大都會網路傳輸布建的重要課題。安捷倫近年來不斷地投資發展光通訊量測技術,對於光學主被動元件及模組的量測均有完整的測試解決方案,本次研討會將以光纖被動網路的主被動元件為基礎,以探討最新量測方案。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

標籤
相關文章

盛群推出HT1086低電壓差電源穩壓

2008 年 02 月 04 日

NI發表PXI架構電源量測單位/高密度PXI切換器

2008 年 02 月 14 日

AGIGA Tech發表高速非揮發性RAM系統

2009 年 10 月 14 日

艾邁斯半導體推出全球最小的1D飛行時間感測器

2019 年 02 月 05 日

Ansys 2021 R2加速工程探索/合作/自動化

2021 年 08 月 04 日

倍捷連接器偕寶西亮相台灣國際智慧能源周

2020 年 10 月 15 日
前一篇
夏普新款手機採Cypress TrueTouch觸控螢幕方案
下一篇
賽靈思推出Virtex-6系列FPGA