安捷倫推出整合邊界掃描/VTEP技術

2008 年 03 月 17 日

安捷倫(Agilent)將為內電路測試(ICT)用戶提供一個創新的方法,讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件(PCBA),而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程,可省下夾具的成本及減少測試資源。
 



該技術結合當今電子製造測試環境的兩項既有的測試方法,邊界掃描(Boundary Scan)和VTEP非向量測試,這個超強大的工具融合邊界掃描的標準化、接觸受限(Limited Access)和數位激發能力,以及VTEP的非向量簡易特性,該公司在這兩個領域的技術領先地位已維持20年以上的時間。
 



該技術對成本和品質有很大的影響,如今PCBA製造商可以選擇設計電氣接觸受限的電路板,以節省夾具成本及減少測試資源。此外,測試夾具使用的探棒變少,也可減輕對PCBA所施加的應力。
 



該公司表示從產業趨勢來看,產品的設計週期愈來愈短,而每個新世代產品都會結合更多的功能與更先進的技術,傳統的內電路測試方法就快趕不上這些技術的發展。該公司致力於提供各種可行的解決方案,以解決當今製造環境所面對的成本壓力。該技術是依該公司之前在ICT方面的創新技術,如VTEP v2.0及Bead Probe技術和該公司的1149.6能力開發而成,客戶將依賴該公司的創新技術,來克服現今PCBA的測試挑戰。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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