安捷倫發表新款光纖極化解決方案

2007 年 08 月 27 日

安捷倫(Agilent)針對光纖元件和系統的研發與製造,在旗下的光纖測試組合中加入六款新的極化分析與控制解決方案,這些新產品可讓研究與設計人員以較佳的速度和準確度,對極化相關參數進行完整的特性描述。安捷倫將在9月17~19日於德國柏林國際會議中心舉辦的歐洲光纖通訊展(ECOC)中,首次展示這些產品。
 



這些產品是以安捷倫2007年6月購併的Adaptif Photonics所開發且經產業證實可靠的技術為基礎。對製造商來說,這個新的產品組合針對校準、調整和最終測試提供快速又經濟的控制與測試解決方案,有助於降低測試成本及提升良率和產能。
 



安捷倫新款極化產品與測試解決方案中N7781A是一款小巧的高速極化分析儀,具備分析光纖訊號的極化特性之完整能力,包括邦加球(Stokes參數)的極化狀態(SOP)再現;N7782A PER分析儀是為以高速及準確度測試PM光纖的極化消光比(PER)而設計,即時量測能力加上自動化介面,使這款儀器適合整合到製造系統中,如光纖元件的引線處理台;N7783A熱循環裝置完全由N7782A PER分析儀控制,可為待測光纖提供準確又穩定的溫度循環。
 



新的極化控制器系列N7784A、N7785A和N7786A,即使輸入SOP因溫度偏移和機械穩定過程而產生波動和偏移,也能提供穩定的輸出SOP,從而節省時間和成本。N7786A內建一個偏極計,可提供高速的極化分析能力,在每秒高達1M個取樣的取樣率下可擷取超過50萬個取樣;N7788A元件分析儀的專屬技術可媲美著名的光纖元件瓊斯矩陣本徵分析(Jones-Matrix-Eigenanalysis, JME)或差動群組延遲(DGD),新的單一掃描技術提供一組完整的參數,包括DGD/PMD/PDL/二階PMD、功率/損耗、TE/TM損耗、主極化狀態(PSPs)及Jones和Mueller矩陣,全都整合在一台測試儀器中。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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