安捷倫發表新款自動化光學檢測平台

2008 年 01 月 09 日

安捷倫(Agilen)已於11月13日在德國Productronica貿易博覽會上展出新款自動化光學檢測(AOI)平台。
 



Agilent Medalist sj5000 AOI解決方案以後回流(Post-reflow)檢測為目標,其採用容易使用且彈性的平台,可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術(SMT)瞬息萬變的需求。
 



該方案以彈性為設計重點,並提供一系列創新的光學檢測技術和改良的機械功能,包括與Rockwell Automation的Anorad部門攜手開發的全新線性起重架。新的簡化型輸送機和夾緊裝置設計,以及更容易接觸到系統元件且能提供更佳運行時間(Uptime)支援的新表面(Skin)。這些功能可協助新手和資深的操作員在快節奏的SMT生產線上迅速達到最多的檢測結果。
 



該方案是為了處理現今複雜且不斷縮小的印刷電路板組件而開發,其可在不犧牲速度和解析度的情況下檢測最小的01005元件,是AOI解決方案最大特色。該平台可輕易地整合到客戶目前採用Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI系統的生產線中。
 



該公司表示,該平台為該公司將來開發創新AOI技術提供新彈性基礎。該公司現在所設計的解決方案,將能協助製造商克服未來的挑戰,即使印刷電路板組裝(PCBA)變得愈來愈複雜且生產線拍速率(Beat Rates)持續地提高。
 



安捷倫網址:www.agilent.com.tw

標籤
相關文章

恩智浦低成本多媒體導航設備推廣衛星定位服務

2007 年 01 月 04 日

意法半導體發表結合類比開關/音頻放大器二合一晶片

2008 年 12 月 15 日

富士通電腦導入u-blox GPS實現定位功能

2010 年 05 月 19 日

SRS實驗室/瑞軒攜手提供JVC頂級環繞聲

2011 年 08 月 09 日

東芝擴大物聯網應用32bit微控制器

2020 年 04 月 20 日

安立知優化5G毫米波3D EIS掃描測試時間

2022 年 12 月 14 日
前一篇
飛索提供65奈米MirrorBit Quad快閃記憶體樣片
下一篇
微芯新增快閃數據記憶體