安捷倫發表新款自動化光學檢測平台

2008 年 01 月 09 日

安捷倫(Agilen)已於11月13日在德國Productronica貿易博覽會上展出新款自動化光學檢測(AOI)平台。
 



Agilent Medalist sj5000 AOI解決方案以後回流(Post-reflow)檢測為目標,其採用容易使用且彈性的平台,可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術(SMT)瞬息萬變的需求。
 



該方案以彈性為設計重點,並提供一系列創新的光學檢測技術和改良的機械功能,包括與Rockwell Automation的Anorad部門攜手開發的全新線性起重架。新的簡化型輸送機和夾緊裝置設計,以及更容易接觸到系統元件且能提供更佳運行時間(Uptime)支援的新表面(Skin)。這些功能可協助新手和資深的操作員在快節奏的SMT生產線上迅速達到最多的檢測結果。
 



該方案是為了處理現今複雜且不斷縮小的印刷電路板組件而開發,其可在不犧牲速度和解析度的情況下檢測最小的01005元件,是AOI解決方案最大特色。該平台可輕易地整合到客戶目前採用Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI系統的生產線中。
 



該公司表示,該平台為該公司將來開發創新AOI技術提供新彈性基礎。該公司現在所設計的解決方案,將能協助製造商克服未來的挑戰,即使印刷電路板組裝(PCBA)變得愈來愈複雜且生產線拍速率(Beat Rates)持續地提高。
 



安捷倫網址:www.agilent.com.tw

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