宗臣採用NI虛擬儀控架構開發RFID產線量測技術

2006 年 01 月 16 日

國家儀器(National Instruments,NI)表示,宗臣科技採用NI開放式的虛擬儀控架構,使用NI的 LabVIEW圖控式程式語言,搭配NI的PXI工業級量測平台及NI的RF模組儀器,成功開發RFID射頻訊號檢測(Radio Frequency Identification)測試系統,適合高速產線,亦可針對不同產業的RFID量測需求,提供客製化測試系統服務。
 

目前RFID這項新技術所具備的遠距離存取,高速辨識及資料讀出寫入等能力已相當受到各產業重視。針對研發這項新的技術,業界常見的解決方案受限於其封閉式的硬體測量架構,另一方面使用GPIB界面之儀器其資料傳輸也相當緩慢。
 

NI表示,宗臣發表的RFID測試系統,最大的研發在於它具備「產線整合能力」,不但能和企業現有產線流程緊密結合,LabVIEW軟體更提供客製化進行資料庫存取、Word或Excel報表產生、遠端監控或和其他軟體搭配之系統整合,因此,可針對不同產業的RFID量測需求,提供客製化測試系統之服務。
 

此RFID量測系統,為一完整從物理層測到協定層,並可進行多樣化測試的量測方案,除了在研發端可提供詳細之量測資料以供產品驗測,亦可在產線端進行整合式產品測試。宗臣使用NI的PXI-8196 2.0GHz Pentium M控制器,是搭配PXI-5660向量訊號分析儀及PXI-5671向量訊號產生器來進行訊號的分析及產生。
 

國家儀器網址:ni.com/taiwan
 


 

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