專訪萊特菠特技術長Christian Olgaard Multi DUT產線測試時代來臨

作者: 黃耀瑋
2012 年 12 月 06 日
平行測試(Multi DUT)技術快速崛起。隨著行動裝置導入長程演進計畫(LTE)、802.11ac技術,產線端測試挑戰也愈來愈嚴峻,傳統Single DUT測試方案已逐漸式微。因此,包括萊特菠特(LitePoint)、美商國家儀器(NI)等量測業者均投入部署Multi...
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