專訪NI自動化測試東亞區行銷技術經理張天生 PXI SMU加速高功率元件量測

作者: 林苑卿
2014 年 03 月 17 日
PXI模組化電源量測單元(SMU)儀器問世。高亮度發光二極體(LED)、絕緣閘雙極性電晶體(IGBT)、金屬氧化物半導體場效電晶體(MOSFET)等需要SMU輸出瞬間高瓦數的電源進行量測,然高瓦數的SMU往往價格昂貴,有鑑於此,美商國家儀器(NI)發布新一代PXI模組化SMU儀器,助力客戶大幅降低測試成本。
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