惠瑞捷(Verigy)宣布推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備(ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試(Wafer Sort)以及終程測試(Final Test)等。Numonyx已選中V6000，從事NAND元件和良品裸晶(KGD)的大量晶圓測試。V6000機台具備的並行測試能力、性能、以及低測試成本是這套系統脫穎而出的主要原因。
惠瑞捷記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示，在此之前，記憶體製造商在測試快閃記憶體和DRAM時，只有使用性能表現不佳的單一測試系統，或分別以專用的測試系統進行測試兩種選擇。現在，V6000可以在同一機台上，切換測試這兩種記憶體類型，且不影響性能。
V6000系統皆採用惠瑞捷專利申請中的Active Matrix技術，以及第六代的Tester-Per-Site架構，兩者搭配可提供業界最低的測試成本。Active Matrix技術能進行大規模的並行測試，支援的I/O接腳超過18,000個，可程控電源供應接腳亦超過4,000個，且因大幅縮短通往腳端介面電路(Pin Electronics)的訊號路徑，而能提供業界最佳的訊號完整性(Signal Integrity)。相較於傳統的記憶體自動化測試設備架構，V6000可提供四倍的並行測試能力，每支腳位的測試成本卻只要原本的一半。V6000具備可擴充的交流測試效能，速度涵蓋140Mbit/s、280Mbit/s、560Mbit/s及880Mbit/s。
惠瑞捷網址：www.verigy.com
