惠瑞捷記憶體測試系統新增SmartRA冗餘分析功能

2009 年 07 月 15 日

全球半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy)宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA(Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案,能幫助製造商解決動態隨機記憶體(DRAM)冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA於2009年7月14~16日的SEMICON WEST展覽中展出。
 



惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統,是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統,不僅具備可擴充性,更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出,V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。
 



為滿足業界的眾多需求,惠瑞捷開發了SmartRA,藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器,企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能,無須擴充測試機台容量。另外,SmartRA採用開放性軟體架構,客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發,可縮短上市時程並降低測試成本。
 



惠瑞捷網址:www.verigy.com

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