惠瑞捷(Verigy) 針對V5000e工程開發工作站推出可程式化介面矩陣(Programmable Interface Matrix)，讓採用V5000e進行工程、測試開發及除錯作業的記憶體製造商也能具備矩陣(Matrix)並行(Parallel)測試能力。 V5000e搭配矩陣使用，可同時測試12個待測元件(DUT)，能提高整體的測試速度，同時減少作業人員介入的必要。此矩陣也能將V5000e接腳數提高到768個測試系統資源接腳，可測試多種記憶體類型如NOR、NAND、動態隨機存取記憶體(DRAM)、靜態隨機存取記憶體(SRAM)及多晶片封裝元件(MCP)中，更多接腳數的記憶體元件。
搭配這套矩陣後，不須透過人工重新插拔，測試系統即可自動轉移資源給不同的接腳使用，可縮短整體的測試時間，也能減少人工介入的必要。這項特點對於測試多晶片封裝元件較好使用，因依序測試元件時，測試資源可在不同待測元件之間自動轉移，完全不須由人工重新插入待測元件。當記憶體元件須進行冗長的編碼寫入和抹除的步驟時，可自動將測試系統的資源同時扇出(Fan Out)，然後再切回循序模式(Serial Mode)進行讀取測試。
這套矩陣也可以搭配溫度環境控制室(Thermal Environmental Chamber)使用，進行極高溫和極低溫的特性量測，以擴大在特性量測上的使用性。
惠瑞捷網址：www.verigy.com
