愛德萬參數量測模組擴大SoC測試功能

2014 年 11 月 27 日

愛德萬測試(Advantest)推出T2000平台多功能參數量測儀(PMU)模組–T2000 PMU32E,進一步提升數位、類比與電源管理系統單晶片(SoC)元件的測試效能。新款模組具備高密度32通道,可與原有PMU32模組完全相容,且能提供高於現有模組兩倍之解析度與精準度。


愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸表示,這款參數量測儀模組上讓客戶能以較低投資成本獲得EPP測試系統功能。


該模組不僅量測時間較現有模組快上一倍以上,尤其在直流電線性量測時間方面,更因為取樣率與資料傳輸速度的提升而大幅縮短,讓測試產能明顯提高,整體測試成本也隨之降低。


此套模組另一改善操作效率的優勢,在於能夠執行針對現有PMU32模組所開發的測試程式;除此之外,PMU32E提供兩倍之多的記憶體容量,讓不受通道之限的任意波形產生器(AWG)與數位器增添更多功能。


此外,PMU32E亦支援晶片內建穩壓器(On-die Regulator, ODR)連同其電流源暨電壓量測(ISVM)連結功能的載入測試。PMU32E模組預計於2015年第一季開始出貨。


愛德萬測試網址:www.advantest.com

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