愛德萬測試將舉辦量測系列活動

2017 年 09 月 05 日

愛德萬測試(Advantest)近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性,持續推出整合性更高的量測解決方案,滿足低階至高階、晶片至系統層級,以及研發端至產線的各種量測需求。

除了完善的V93000平台及相關衍生模組產品(Wave Scale RF卡及相對應的Wave Scale MX卡)外,T2000系統及EVA100測量平台也已進行功能擴充,以滿足物聯網測試需求。其中,針對現階段物聯網晶片多整合有微控制與應用處理器,以執行通訊、電源管理和感測等許多功能,愛德萬測試推出T2000 AiR系統,為高整合度晶片提供高效率類比/混合訊號IC量測。

該公司今年五月甫於美國加州及中國上海舉辦的2017 VOICE Conference,共有181篇技術研究報告投稿,吸引超過450位的來賓參與,雙雙打破過去十年來的記錄。十月下旬將於新竹舉辦Memory Technical Forum記憶體測試技術論壇,十一月的SoC Technical Seminar系統單晶片測試研討會緊接登場,以協助客戶打造面對市場激烈競爭的即戰力。

在VOICE之後的是一連串重要活動,將在下半年度展開。9/13-9/14 Advantest將在2017台灣半導體展中設有Hospitality Suite接待客戶,提供餐點及產品解說。集團旗下的銷售子公司Cloud Testing Service, Inc.,今年也將出席2017 Semicon Taiwan,設置攤位在#1627,提供兼具IT與雲端技術的測試解決方案。

標籤
相關文章

愛德萬瞄準NAND Flash/NVM推出新記憶體測試產品

2023 年 12 月 19 日

MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器

2005 年 03 月 14 日

恩智浦任葉昱良為大中華區執行長

2007 年 10 月 22 日

凌力爾特/MicroGen合作無線感測網路

2013 年 07 月 17 日

凌力爾特展示首款無線電池管理系統

2016 年 11 月 17 日

德國福斯旗下CARIAD/意法合作開發軟體定義車用晶片

2022 年 08 月 05 日
前一篇
瑞薩8.48百萬像素影像感測器支援4K攝影機
下一篇
拓展非接觸介面應用 鴻海/三星共推Keyssa無線傳輸