愛德萬測試針對連網世界發布最新測試解決方案

2018 年 03 月 27 日

愛德萬測試(Advantest)於3月14至16日在上海新國際博覽中心盛大登場的中國國際半導體展(SEMICON China),實際操作和數位展示12項針對中國半導體市場推出的先進產品和服務。

愛德萬測試的展示位置位於N4展館第4425號攤位,展出最新測試解決方案T2000 AiR系統。該系統專為模組與系統級封裝 (System in Package, SiP)元件的測試而設計,這些模組與元件結合微控制器(MCU) 和應用處理器,執行諸如通訊、電源管理和感測等功能。小型氣冷式T2000 Air應用範圍廣泛有彈性,除能滿足研發階段的低成本測試需求外,也適用於少量多樣化生產時的測試環境。此外,T2000 Air亦可與M4800系列分類機整合,創造高效能、不佔空間的測試解決方案,愛德萬測試稱之為整合式零佔位測試站(Integrated Zero Test Station)。

此外,愛德萬測試亦將在攤位上展示EVA100量測系統,此為一款高附加價值的革命性平台,針對應用於智慧電子產品之低腳位數的類比、混合訊號與感測IC,進行數位及類比測試。擴充性極佳的EVA100平台舉凡工程設計、量產環境都適用,能同步控制多重測試功能,進而執行高精準度的量測任務,提升測試效率。

其他在SEMICON China展示的先進產品還包括了Airlogger WM1000無線資料記錄系統,能最大化測試作業效率,並能量測移動中物體的溫度。上述功能對於汽車產業與其他製造及研發領域尤其有利。

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