SEMICON Taiwan 2007特別報導(二)

挑戰製程微縮極限 半導體材料創新扮要角

作者: 王智弘
2007 年 10 月 29 日

隨著摩爾定律的發展腳步,半導體的發展在進入更先進的奈米製程節點後,開始產生各種物理特性的限制,讓晶片微縮面臨重重挑戰。尤其在利用193奈米浸潤式微影技術時,對圖形蝕刻(Pattern Etching)的深寬比(Aspect Ratio)要求更為嚴苛,已非傳統非晶矽碳膜(Amorphous Carbon Film)處理方式所能滿足,亟需可靠性更高的薄膜成形技術;此外,在半導體持續微縮的同時,新材料的研發亦是提升元件效能與產品創新的重要關鍵,更將在未來半導體技術演進過程中,扮演舉足輕重的角色。
 



半導體製程的微縮已是大勢所趨,而193奈米浸潤式微影技術更是讓線寬得以持續縮小的關鍵技術,並已廣泛為晶圓廠所採用。然而,囿於193奈米浸潤式微影光波的波長較短,蝕刻圖形時的深寬比較高,使得薄化光阻材質已不敷使用,而須仰賴可灰化硬遮罩(Ashable Hard Mask, AHM)薄膜,來達到理想的蝕刻深寬比要求。
 



記憶體需求激增 PECVD水漲船高
 




圖1 諾發系統介電質事業部產品管理資深總監謝主純(左)表示,PECVD薄膜層數的增加、AHM薄膜市場升溫,以及高產量記憶體廠的擴增,是驅動PECVD市場快速成長的三大因素。右為台灣區總裁蔡定中。



長期致力於電漿輔助化學氣相沉積(PECVD)機台開發的諾發系統(Novellus Systems)介電質事業部產品管理資深總監謝主純(圖1)表示,隨著193奈米浸潤式微影技術日益普及,相對也讓AHM薄膜的市場需求及重要性提升,尤其是動態隨機存取記憶體(DRAM)及快閃記憶體(Flash Memory)等產品的AHM薄膜層數量,更將隨著記憶體製程技術節點的進步而快速增加。
 



以DRAM為例,現今主流80奈米製程約需四層AHM薄膜層,但未來每進入一個新的技術節點就會再增加兩層,到30奈米時,AHM薄膜層將高達十層的需求數;Flash記憶體方面也是如此,預估AHM薄膜層數將從現今的一層快速增加至七層需求(圖2)。也因此諾發系統預估,PECVD整體市場規模將在未來3年內快速增長,其成長率更將高於整體半導體產業資本支出(CAPEX)的成長率,其中,記憶體更是驅動市場成長的重要動力。


圖2 80奈米以下記憶體製程技術節點所需的AHM薄膜層數



有鑑於此,諾發系統推出內建AHM技術的VECTOR Express平台,協助晶圓廠克服193奈米微影技術所帶來的挑戰。謝主純指出,AHM薄膜運用特殊化學特質及強化電漿能力來研發,特別能滿足先進製程節點在蝕刻篩選上的嚴格要求,同時在光阻曝光過程中,仍能於晶圓對準用的光源下一目了然,展現良好的薄膜特性以及嚴重缺陷(Critical Defect, CD)控制能力,大幅提高晶片良率並較現有業界標準減少30%的總持有成本(Cost-of-ownership)。目前該款機台已出貨給主要記憶體客戶,並將於第四季時供貨給其他客戶。
 



此外,為避免傳統室內(In-chamber)邊緣除膜技術容易發生可靠性、產量及瑕疵等問題,VECTOR Express平台整合了新沉積後晶圓斜邊除膜(EBR)功能,可改善晶圓邊緣除膜的精準度及可重複性,此項特點對193奈米浸潤式微影技術而言,格外重要。
 



另一方面,看好Vista所帶動的DRAM及Flash記憶體需求規模,諾發系統同時推出另一款強調量產效率的VECTOR Extreme平台,每小時產量高達兩百五十片晶圓,較現今一般每小時一百五十片的產量更為快速,可縮減40%以上的平均製程週期時間,同時減少晶圓廠內晶圓存貨量。
 



謝主純強調,新上線的記憶體製造廠每月產能均超過十萬片以上,再加上一般記憶體製程需二十道以上的PECVD處理步驟,因此對高容量記憶體製造廠而言,高產量的PECVD系統不僅可降低使用的機台總數量、維護成本、縮短總生產週期時間,同時也可將晶圓存貨量降至最低,進而減少最終產品成本。
 



此款VECTOR Extreme係架構於諾發系統今年3月所推出的VECTOR Express平台上,將三組多站序列製程模組(Multi-station Sequential Process Modules)及多達十二處的沉積站(Deposition Stations)整合至中央晶圓處理室。利用此種配置來沉積記憶體所需的較厚薄膜時,可較等級相近的競爭產品的產量多出兩倍。
 



提升新材料/製程研發效率
 




圖3 Intermolecular總裁暨執行長David Lazovsky指出,材料與製程技術的創新將成為半導體產業持續演進的重要力量。



除了微影技術所帶來的挑戰外,愈來愈多半導體業者也開始將研發焦點轉向新材料的開發,以進一步克服日益嚴峻的製程微縮挑戰。致力於提供半導體研發平台的Intermolecular總裁暨執行長David Lazovsky(圖3)指出,在0.13微米製程節點以前,半導體技術的進展是被尺寸微縮所驅動,亦即尺寸微縮對晶片性能的提升具有高度影響力;然而,自90奈米開始,材料與技術創新重要性突顯,尤其在IC設計複雜度倍增、產品開發週期縮短的趨勢下,更將成為半導體產業持續演進以及業者提高競爭力的核心關鍵。
 



目前半導體元件與製程研發週期大致分為材料研發、單一製程研發、製程整合、元件驗證,以及試量產等五個階段,並由材料供應商、設備製造商和IC製造商分別投入各自專長領域,再藉由共同合作來解決研發上的難題。不僅必須耗費龐大經費進行製程整合及元件驗證,更讓整體研發效率大打折扣。
 



Lazovsky進一步表示,現今IC製造商多半在大量生產的機台上進行新技術的開發,一次僅能進行一片晶圓和一種製程的研究測試,使得研發學習週期冗長,效率不彰。而Intermolecular則透過高產能組合式(High-productivity Combinatiorial, HPC)研發平台,協助客戶以最低成本及風險,整合並測試大量的選擇方案,加速產品開發週期,進而創造最大的研發投資報酬率。
 



所謂組合式,係指在同一研發平台中,可提供涵蓋材料、製程、元件架構與整合等多種工作流程,而所有測試研究過程均以符合最終元件驗證要求為依規,以提升半導體研發生產力。
 



此套名為Tempus的HPC研發平台,主要包含大量製程同步處理、特性校準及資訊處理等三大核心,其中資訊處理系統更扮演整體系統骨幹(Backbone)角色,用來實驗、擷取並分析各種測試資料,以透過三次篩選程序,找出最佳解決方案(圖4)。目前Intermolecular已針對濕式製程推出Tempus F-10、F-20及F-30三套系統。以F-30為例,其整合HPC及整片晶圓製程,具有二十八套篩選模組,可測試上萬種製程,適用於清洗/表面處理與無電極電鍍(Electroless Deposition)等製程。


圖4 HPC平台用於濕式製程研發的工作流程



事實上,HPC技術已廣泛用於能源、醫藥、生技和其他由新材料出現所帶動的產業中,研發速度與效能均已通過許多嚴格考驗。如今,新材料整合已超越製程微縮成為半導體元件效能提升更重要的關鍵,Intermolecular因而將此技術導入半導體產業,期能大幅改善現今主流研發方式。
 



Lazovsky指出,HPC平台係針對研發所設計,可同時實驗、測試、分析大量的材料、製程與整合選項,並進行晶片電性測試,以獲得最適當的晶片架構,滿足客戶技術差異化、成本效益與即時上市等三大要求。
 



目前,該公司客戶群包括北美、歐洲和亞洲主要晶片廠商、材料供應商與設備製造商,客戶可透過直接採購Tempus系統、取得矽智財(IP)授權,以及跨領域協同研究等合作方式來應用HPC技術。
 



以知名半導體材料供應商先進科材(ATMI)為例,即利用Tempus Fluids流程系統,來進行自動化的晶圓測量和資料分析,達到高速同步處理多種材料研究實驗的效率。ATMI執行長Doug Neugold表示,迅速開發更先進的材料,是促成半導體產業未來發展的重要關鍵,尤其是在新技術的初期開發階段,透過Intermolecular的Tempus工作流程,可縮短精密的資料導向研發流程,並在更短時間內提供客戶更好的材料解決方案,大幅降低客戶的研發成本。
 



而除了材料相關的研發業者外,晶圓代工廠、封裝測試廠以及無晶圓(Fabless)IC設計業者,亦是該公司鎖定的目標客群。
 



以創新材料提升產品附加價值
 



就半導體產業實際應用面來看,在產能利用率、製造效率與良率等要求日益升高之際,創新材料更是確保產品品質與增加附加價值的不二法門,如威格斯(Victrex)所研發出的高性能創新材料–聚醚醚銅(PEEK)聚合物,即已在半導體產業廣泛使用。
 



威格斯台灣區總經理李自立指出,該公司所開發出的PEEK聚合物,可滿足半導體市場對材料在耐磨、耐熱、耐化學性、抗靜電性(ESD)、超高純度,以及尺寸穩定性等方面的嚴格要求,許多半導體設備及製具供應商已改用PEEK材料來生產其產品。
 



據了解,目前半導體產業中塑膠材料使用量最大的領域包括化學機械研磨環(CMP Ring)、晶圓盒(Wafer Cassette),以及後段封裝測試應用等三大部分,因而也成為PEEK材料主要鎖定的目標市場。李自立表示,以化學機械研磨環而言,目前多半是採用聚苯硫醚(PPS)纖維材料製成,然而若使用PEEK材料則可以相同價格增加兩至三倍的使用壽命,同時減少停工時間、提高生產良率,並降低每個晶圓生產成本,包括台灣與韓國的化學機械研磨環製造商均開始導入;此外,12吋晶圓盒目前已多半是採用PEEK材料製成,惟8吋晶圓盒仍以聚丙烯(PP)材料為主。
 



此外,後段製程的測試應用亦是PEEK材料發揮的另一重點,如高溫矩陣式托盤(Matrix Tray)、測試座(Test Socket)、測試座調準盤(Alignment Plate)以及老化測試座(Turn-in Test Socket)等。半導體整合封裝設備應商進峰半導體器材(ASM)即利用PEEK材料所製程的APTIV薄膜來降低測試分類機(Handler)中,接觸片(Contact Strip)因滾動軸長時間磨擦而快速耗損。
 



ASM台灣分公司業務經理郝明彥指出,現今測試機台每小時所測試的數量相當龐大,為確保運作無虞,必須慎選高度耐磨的材料。以往測試分類機接觸片在接觸約兩百萬個週期後即嚴重磨損,但若將APTIV薄膜貼於接觸片上,使用壽命則可長達六百萬次以上。



顯而易見的,材料與半導體製程技術的搭配與結合,已是產業持續精進的主要動力,透過創新材料的使用,不僅有助提升半導體製程良率及元件特性,更可藉此增加附加價值,大幅提高產品差異性與競爭力。

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