65奈米晶片檢測暨絕緣材料發展(下)

挾高良率/低容量/高可靠性 NCS銅多層導線獲青睞

作者: 高聖弘
2008 年 04 月 16 日
半導體大型積體電路(LSI)遵循摩爾(Moore)法則持續朝超微細化方向發展,目前伺服器等高速微處理器(MPU)與行動電話使用的先端LSI元件設計規則是90奈米,2005年以後各半導體廠商開發的次世代LSI元件,陸續跨足65奈米超微細領域,因此國外廠商推出65奈米世代LSI用、2.25低比誘電率、彈性率高達10GPa,具備高機械強度的多孔(Porous)Low-k材料,與奈米群二氧化矽(NCS)等先進絕緣材料。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

運用模組化設計建構可靠的電源供應系統

2005 年 10 月 21 日

單週期控制技術化繁為簡 輕鬆實現高功率PFC設計

2006 年 02 月 08 日

利用順向基體偏壓技術 提升超低電壓標準單元效能

2007 年 10 月 18 日

兼顧資料/電源/影像傳輸 USB Type-C加速普及

2018 年 03 月 01 日

強化天線效能/抗干擾演算法 雙模滑鼠多工切換減干擾

2020 年 09 月 17 日

電動車設計模擬幫大忙 最佳化續航與座艙舒適度

2025 年 02 月 11 日
前一篇
照明應用日漸廣泛 LED量測技術/標準化重要性突顯
下一篇
Maxim推出Pre-emphasis驅動器