新邊界掃描測試系統出爐 JTAG鏈擴大測試範圍

2008 年 12 月 29 日
許多工程師通常運用邊界掃描鏈為複雜可編程邏輯元件(C-PLD)或快閃記憶體等元件進行編程。但更多工程師則會使用邊界掃描擷取有關機板或系統運作的詳細資訊。隨著內建於最新Virtex-5系列的賽靈思(Xilinx)System...
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