明導國際舉辦Calibre xRC研討會

2007 年 05 月 28 日

明導國際(Mentor Graphics)將在6月14日舉行Calibre xRC研討會,將探討在analog/射頻(RF)、數位和晶片記憶體(On-chip Memory)領域裡用來分析的IC設備,及互連模型目前所廣被採用的方法以及技術,也涵括IC設計的未來趨勢。
 

Calibre xRC為萃取寄生參數(Parasitic Extraction)問題的突破性工具,其萃取引擎可提供必要的精確度和萃取效能。正確萃取寄生效應是確保設計能依照計畫運作進,產品可順利推出市場的關鍵要素。但該如何選用萃取寄生效應的工具則取決於您所開發的專案的型態。Calibre xRC提供一個完整流程,可將重點放在所選擇的必要資料,並可產生多種不同的網表格式資料,以便支援不同的後佈局分析工具。
 

本活動完全免費,有興趣者請至http://mentor.my-event.net/061407/報名。
 

明導國際網址: www.mentor.com
 

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