環狀震盪器提供有效及成本的方式 如何量測電阻和電容的延遲效應

作者: 吳崇茂
2005 年 02 月 04 日
由於半導體產業持續往高時脈和小尺寸元件的方向發展,所以電阻和電容方面的延遲(RC Delay)效應,在電路設計和生產製程監控上,就變成值得去探討的環節。如何有效地且低成本地驗證及量測,也就變成了半體製造廠商一個重要的課題...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

安全議題熱度不減 MCU打造智慧型汽車系統

2009 年 02 月 26 日

封裝效能持續改進 覆晶內連線畫龍點睛

2010 年 08 月 09 日

搶搭行動裝置聯網潮流 晶片整合天線應運而生

2010 年 09 月 09 日

創新PMIC設計技術加持 行動裝置電池續航力大增

2013 年 09 月 05 日

可編程生態系日益完整 嵌入式視覺應用開發更快速

2016 年 06 月 02 日

輔助資訊娛樂/資通訊控制/ADAS Wi-Fi 6E導入聯網汽車應用

2023 年 04 月 13 日
前一篇
Wind River購併RTI旗下ScopeTools事業群
下一篇
瑞薩與Infineon共同研發新式智慧卡軟體介面

登入會員

本站程式甫於2022.5.5更新,
所有舊會員必須先點擊:
忘記密碼 進行密碼確認後,才能正常登入。

上述動作目的在於確保帳號安全性,造成不便懇請見諒。如您已重設過密碼,請忽略此訊息。