環狀震盪器提供有效及成本的方式 如何量測電阻和電容的延遲效應

作者: 吳崇茂
2005 年 02 月 04 日
由於半導體產業持續往高時脈和小尺寸元件的方向發展,所以電阻和電容方面的延遲(RC Delay)效應,在電路設計和生產製程監控上,就變成值得去探討的環節。如何有效地且低成本地驗證及量測,也就變成了半體製造廠商一個重要的課題...
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