福雷電子選中惠瑞捷射頻測試系統

2008 年 03 月 11 日

惠瑞捷(Verigy)宣布福雷電子(ASE Test)已採購Verigy Port Scale射頻(RF)測試解決方案,測試客戶的高整合度無線通訊元件。福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠(IDM)及IC設計公司,提供各種測試服務。Port Scale射頻測試解決方案的性能出眾,再加上V93000機台所具備的擴充性,以及分散各地的半導體測試與製造產業界廣泛採用惠瑞捷的機台,是Port Scale射頻測試解決方案獲福雷電子青睞採用的原因。
 



日月光,該公司的客戶已採用V93000 Port Scale射頻測試解決方案,測試最新、最先進的手機晶片組。是該公司利用Port Scale射頻測試解決方案從事生產測試的第一個元件,該公司對Port Scale的性能表現與結果的品質感到相當滿意。
 



惠瑞捷表示,很高興能拓展與福雷電子的合作關係,福雷電子最近的採購行動充分顯現業界肯定Port Scale RF是先進的射頻測試解決方案。福雷電子今後將可為客戶測試各種複雜的射頻系統單晶片(RF-SoC)及射頻系統級封裝(RF-SiP) IC,包括最新的3G和4G技術。
 



Verigy V93000為可擴充的機台架構,能用以測試系統單晶片、系統級封裝、以及高速記憶體元件。V93000內建射頻測試能力的系統在全球安裝的數量已超過一千五百萬套,不論是進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量的生產製造,都能解決業者在性能及成本上面臨的嚴峻挑戰。這套測試系統可提供大規模的多接點(Multi-site)測試能力,能支援高達12.8 Gbit/s的資料速率,以及各種數位、混合訊號、射頻及無線通訊的應用,如蜂巢式通訊、無線區域網路(WLAN)、全球微波存取互通介面(WiMAX)及UWB等,對降低測試成本助益極大。
 



福雷電子網址:www.aseglobal.com

惠瑞捷網址:www.verigy.com

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