突破驗證/測試瓶頸　低功耗晶片設計創新局

作者： 王智弘
2007 年 12 月 27 日
終端產品對節能的殷切需求，促使IC設計業者必須自系統層級開始，將功耗問題納入考量。而隨著CPF標準規格的問世，以及晶圓廠、EDA工具業者與IP供應商的支援，將有助解決傳統低功耗設計的技術瓶頸，提高產品成功機率。
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