縮減LED/功率元件測試成本 PXI模組化SMU亮相

作者: 林苑卿
2014 年 02 月 18 日

PXI模組化電源量測單元(SMU)儀器問世。高亮度發光二極體(LED)、絕緣閘雙極性電晶體(IGBT)、金屬氧化物半導體場效電晶體(MOSFET)等需要SMU輸出瞬間高瓦數的電源進行量測,然高瓦數的SMU往往價格昂貴,有鑑於此,美商國家儀器(NI)發布新一代PXI模組化SMU儀器,助力客戶大幅降低測試成本。



美商國家儀器自動化測試東亞區行銷技術經理張天生(左)表示,PXIe 4139顛覆傳統SMU的設計與性能,準備在高功率半導體元件測試市場大展身手。右為美商國家儀器自動化測試行銷經理潘建安



美商國家儀器自動化測試東亞區行銷技術經理張天生表示,隨著LED單價驟降,降低生產成本亦面臨極大的挑戰,遂讓更具成本競爭力的PXI模組化測試儀器優勢盡現,也因此,該公司持續推出採用PXI模組化架構開發的新款SMU儀器。


不僅是LED,IGBT、MOSFET等功率半導體元件亦需高瓦數的SMU進行測試,但隨著LED和功率半導體元件的價格直落,半導體廠商已愈來愈無力負擔售價高昂的高瓦數SMU,將讓PXI模組化SMU勢力有機會在測試儀器市場抬頭。


美商國家儀器自動化行銷經理潘建安指出,不同於市面上的SMU儀器僅有八個通道,該公司新推出的SMU機台PXIe 4139可擴充多達十七個通道,不僅測試速度快三倍,更可藉此減少測試成本。


據了解,PXIe 4139可應用於LED封裝和終端,以及功率半導體元件的研發及產線端。張天生強調,由於PXIe 4139測試速度快又精準,且測試量大,因此在產線端更能彰顯其價值。


除大大降低測試成本之外,PXIe 4139也改善傳統SMU暫態響應(Transient Response)不夠快速精確的弊病。張天生說明,美商國家儀器挾獨有的SourceAdapt技術,消弭傳統SMU暫態響應過慢的缺陷,因此不會再發生因電壓或電流過衝(Overshooting)而造成待測物損毀的情形,有助進一步提高測試效率。

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