釐清訊號對雜訊比定義 挑戰ADC雜訊比之極限

作者: 翁立昌 / 許文景
2006 年 11 月 24 日
有效位元數是ADC性能表現的一項重要參數,它代表ADC在操作時的解析度,在晶片測試時有效位元由訊號對量化雜訊比的量測值所決定,半導體測試產業通常會將訊號對量化雜訊比混淆為訊號對雜訊比,實際上二者有所差異。本文將釐清訊號對雜訊比之定義,並以環境雜訊計算,推斷訊號對量化雜訊比公式的適用極限。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

低耗能需求殷切 反射式顯示器展露鋒芒

2009 年 03 月 26 日

符合高可靠度需求 驗證測試有助汽車電子升級

2009 年 04 月 02 日

降低輻射功率/電磁干擾 SSCG時脈IC領風騷

2011 年 10 月 20 日

有效執行演算法 Cortex-M4 MCU簡化馬達控制架構

2012 年 12 月 20 日

導入閘極屏蔽結構 溝槽式MOSFET功耗銳減

2014 年 03 月 24 日

兼顧系統可靠性/效能 溫度感測器尺寸與配置神助攻

2021 年 11 月 21 日
前一篇
百利通半導體發表新款高性能PCIE TO PCIX橋接晶片
下一篇
凌力爾特2×2毫米DFN封裝提供達500毫安培電流