釐清訊號對雜訊比定義 挑戰ADC雜訊比之極限

作者: 翁立昌 / 許文景
2006 年 11 月 24 日
有效位元數是ADC性能表現的一項重要參數,它代表ADC在操作時的解析度,在晶片測試時有效位元由訊號對量化雜訊比的量測值所決定,半導體測試產業通常會將訊號對量化雜訊比混淆為訊號對雜訊比,實際上二者有所差異。本文將釐清訊號對雜訊比之定義,並以環境雜訊計算,推斷訊號對量化雜訊比公式的適用極限。
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