降低電源IC損壞率 輸入端過應力分析不可少

作者: Roland van Roy
2016 年 11 月 03 日
電源IC失效常常是輸入端受到電氣過應力(EOS)的結果。本文對電源IC輸入端ESD保護單元的結構進行解釋,說明它們在遇到EOS事件時是如何受損。在系統設計中採用一些特別的設計可以避免EOS發生,防範它們可能帶來的危害。
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