類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

提升車用照明安全性 LED開關穩壓器舉足輕重

2010 年 05 月 06 日

克服隱私與功耗問題 LTE-D提高鄰近搜尋應用價值

2014 年 06 月 05 日

可調式電壓功能助攻 10W無線充電設計水到渠成

2015 年 05 月 14 日

手眼協調功能再升級  3D視覺引導機器人風潮起

2018 年 05 月 24 日

通過嚴謹熱工測試 QSFP-DD模組效能掛保證

2019 年 04 月 22 日

導入卷積神經網路 3D結構光動態感測精準到位

2022 年 04 月 11 日
前一篇
眺望台:元件間訊號流動關係重大 完整訊號路徑架構可提升效能
下一篇
LSI與RTJ Computing攜手合作 提供支援Java技術的ZSP核心解決方案