類比技術:類比元件測試新寵 DFT縮短測試時間與成本

2005 年 08 月 03 日
測試模式是一種可測試設計(Design-for-Test, DFT)技術,主要用於半導體元件測試。採用測試模式技術的設計可作動態配置,讓一個或多個獨立功能方塊接受測試,不像全功能測試般出現寄生參數效應...
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