面對如第三代通用序列匯流排(USB 3.0)、PCIe和序列式先進附加介面(SATA)等高速傳輸介面的標準，取樣率、頻寬和紀錄長度成為量測儀器商的三大挑戰，業者透過更換底板，採用更高效能的處理器、發揮量測方法優勢並搭配軟體，以支援多元的受測對象，進而備戰更複雜、快速和大量的訊號傳輸。
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| 太克科技產品行銷經理曁產品規畫師Sarah Boen表示，面對傳輸標準邁入高速、高複雜度和大資料量，量測儀器廠商除了增加儀器本身的性能，更要洞悉使用者的需求。 |
太克科技(Tektronix)產品行銷經理曁產品規畫師Sarah Boen表示，由於頻寬越高，所產生的雜訊也越高，因此減少雜訊是高速傳輸介面必須面對的議題。而100Gbit/s訊號取樣的示波器所展示的眼圖表現比50Gbit/s訊號取樣的示波器來得佳。
除希望獲得測試結果，一旦產品無法通過標準，業者也冀望量測儀器可以找出問題所在。Boen表示，若量測儀器透過判斷抖動和眼圖的呈現，則可更深層地分析問題。此外，自動化軟體也是未來趨勢。如針對USB、SATA、PCIe等傳輸標準，同一台量測儀器僅須更換軟體，即可針對不同傳輸標準所需的分析數據進行處理。
至於量測方法也是關注的重點，Boen指出，序列式數據連結分析(SDLA)的嵌入式(Embedded)和去除式(De-embedded)量測原理行之有年。嵌入式量測方法主要透過模型模擬訊號傳輸過程，並在傳輸過程中置入時脈和X參數，最後透過取樣示波器測試；而去除式則模擬接收端晶片的等化器，透過等化器補償在傳輸過程中隨距離衰減的高頻訊號，藉此判斷訊號是否順利傳輸至接收端晶片。
