台灣R&S將舉辦頻譜分析儀基本原理及對各雜訊量測原理應用課程活動

2005 年 06 月 01 日

雜訊無所不在的環境中,無論設計的是系統、子系統、次組件或是單一的元件,每個零組件都會帶來一些雜訊,進而影響接收器的整體效能,透過適當的量測來降低雜訊指數,可以使得元件具有競爭優勢。而雜訊指數對於系統整體以及成本的影響十分重要,而相位雜訊則會限制對設計與系統中準確量測訊號的能力,影響訊號量測品質。
 

台灣羅德史瓦茲則針對通訊設備零組件及射頻測試相關設計製造業者,將於2005年6月16日舉辦,「頻譜分析儀的基本原理以及對雜訊指數/相位雜訊之量測應用網路分析儀於平衡/非平衡/多埠元件的量測」之基本原理活動,並進一步探討網路分析儀於平衡/非平衡/多埠元件量測原理概念及其相關量測參數,將有助於初期之設計開發研究及後段之量測評比效益。現場備有實機展示操作運用,歡迎量測領域先進們踴躍參加。詳細請上網查詢。
 

台灣羅德史瓦茲網址:http://www.rohde-schwarz.com.tw/

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