安捷倫光學調變分析儀適用40/100G實體層測試

2009 年 04 月 03 日

安捷倫(Agilent)發表業界首款基於時域的光學調變分析儀,其可深入分析經振幅與相位調變的光學訊號。此款光學測試儀器是與安捷倫實驗室共同開發而成。這是一款結合大頻寬、多偏振相干光接收器技術、安捷倫89600向量訊號分析軟體(VSA)及安捷倫高速即時資料蒐集設備Infiniium 90000系列示波器為基礎的測試儀器。
 



安捷倫將於3月23~26日,在加州聖地牙哥會議中心舉辦的OFC/NFOEC 2009展覽會上展示N4391A光學調變分析儀。該儀器是第一款基於時域分析的相干偵測系統,其提供一個彈性最高的統包解決方案(Turn-key Solution),可深入分析經振幅與相位調變的光學訊號,讓科學家和工程師得以迅速檢驗其設計。
 



隨著網際網路的廣泛建置,市場對於傳輸能力的要求不斷地提高。這個現象促使現今的10Gbit/s傳輸速率,在未來幾年內提升到40Gbit/s和100Gbit/s。台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,其光學調變分析儀提供一個高度彈性的統包解決方案,可作為根據先進調變模式來開發傳輸系統的參考系統。該儀器對傳輸系統與元件供應商的科學家、開發工程師和品質工程師來說是實用的工具,可支援新一代高速光通訊網路的發展。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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