安盟科技將於10月3日、4日，分別於台北與新竹舉辦「高速數位傳輸阻抗TDR測試方案暨安捷倫(Agilent)向量網路分析儀實機展示」講座。
該講座將會介紹阻抗控制測量原理，並透過安捷倫向量網路分析儀、自動化高速傳輸線測試軟體，現場實機演示高速數位傳輸線與轉接頭測試與特性，進而有效幫助數位系統開發人員發現和解決訊號完整性問題。
在追求符合標準的高傳輸速率時，訊號完整性的品質問題即隨之而來。影響系統的性能與準確性的因素眾多，如脈衝寬度、時序、頻率、訊號上升時間、抖動、雜訊等；而為了確保訊號完整性，了解和控制訊號傳輸環境的阻抗是重要的一環。
目前業界測試PCB、Cable、Connector等傳輸線特性阻抗最常使用的是時域反射計TDR方式。傳統的TDR測試大多以TDR示波器進行，然而傳統TDR示波器容易有準確度不高、花時間設定扭斜校正與儀器容易被靜電打壞等問題。
透過安捷倫向量式網路分析儀(VNA)量測TDR是目前時域分析的全新突破，此TDR測量的新方案具備操作簡易、精準快速、ESD架構三大優勢，有助於進行通用序列匯流排(USB)、SATA、MHL、高畫質輸出介面(HDMI)、DisplayPort、DDR和MIPI等高速數位應用的量測，快速有效解決實體層訊號完整性驗證。
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