宜特針對落下/衝擊試驗能量進行升級

2014 年 04 月 22 日

宜特針對落下/衝擊試驗能量進行升級,符合國際手機大廠最高規格要求,G值(重力加速度)達10,000G。


宜特可靠度工程處處長曾劭鈞表示,手持裝置為容納更多功能,積體電路(IC)元件尺寸越做越小;然而,以往各供應鏈廠商遵循的聯合電子裝置工程協會(JEDEC)落下實驗條件,並無法有效驗證微小化元件的焊點可靠度,當然亦不能滿足各大廠的嚴苛定義。為解決此問題,提高測試的衝擊力道(High G)或是增加循環(落下)次數,為各大廠常見方式。


據宜特觀察,每當新手機推出,消費者除針對效能做測試外,另一測探討重點就是落下測試,以了解手持式裝置耐摔程度;測試結果時常成為各網站論壇評斷手機品質的關鍵要點。


落下/衝擊試驗,是業界模擬手持式產品從高度掉落之品質測試手法,可得知產品受衝擊時,外部面板及內部連接IC元件與電路板的焊點,可承受之衝擊力道與撞擊時間(ms)。


升級的落下/衝擊測試能量達10,000G/0.2公尺(m),搭配多軸向架構,已可滿足國際大廠的高可靠度測試需求,為IC設計公司進入國際大廠前的可能測試需求做好準備。


宜特網址:www.istgroup.com

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