全球半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy)宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA(Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決動態隨機記憶體(DRAM)冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA於2009年7月14～16日的SEMICON WEST展覽中展出。
惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統，是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統，不僅具備可擴充性，更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出，V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。
為滿足業界的眾多需求，惠瑞捷開發了SmartRA，藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器，企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能，無須擴充測試機台容量。另外，SmartRA採用開放性軟體架構，客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發，可縮短上市時程並降低測試成本。
惠瑞捷網址：www.verigy.com
