是德(Keysight)日前發表量測軟體平台–WaferPro Express 2015。新軟體可在晶片級量測系統中，有效控制所有元件，降低量測配置複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台，期協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。
台灣是德科技總經理張志銘表示，新軟體平台是與Cascade Microtech合作的產物，象徵是德晶圓級測試解決方案發展的重要里程碑。該軟體平台可連接所有系統元件，協助客戶迅速執行第一次量測。
事實上，高容量的晶圓級測試系統已不再是半導體晶圓代工廠專利，許多研發團隊都須在不同溫度下量測大量資料，以因應元件建模、流程監控、可靠性和元件特性分析等要求，而自動化晶圓探測器已成元件研發量測實驗室標準配備。
新軟體與Cascade Microtech的Velox 2.0探針台控制軟體進行獨家整合，透過雙方攜手開發的雙向通訊鏈路的WaferSync，可將WaferPro Express和Velox 2.0加以整合。Cascade Microtech的WaferSync支援完整的晶圓圖(Wafer Map)同步功能，提供簡單無誤差的軟體資訊交換，包括晶圓對準、位置和晶粒資訊。
新平台可連接到Velox 2.0，讓測試工程師快速設定量測系統。為提高射頻(RF)量測效率，該平台可定期監視射頻校驗的穩定性，以便縮短收集不準確資料的時間。
是德網址：www.keysight.com
