降低電源IC損壞率 輸入端過應力分析不可少

作者: Roland van Roy
2016 年 11 月 03 日
電源IC失效常常是輸入端受到電氣過應力(EOS)的結果。本文對電源IC輸入端ESD保護單元的結構進行解釋,說明它們在遇到EOS事件時是如何受損。在系統設計中採用一些特別的設計可以避免EOS發生,防範它們可能帶來的危害。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

無刷直流電風扇的電流控制設計

2004 年 10 月 15 日

筆記型電腦效能與廢熱處理的兩難 溫度感應器身負重任

2005 年 02 月 04 日

自容、互容感測並用 電容式觸控螢幕抗水性大增

2013 年 02 月 04 日

IPv6網路協定助攻 藍牙4.1加速物聯網成形

2014 年 10 月 23 日

傳輸效率大幅躍進 訊號/雜訊為檢測要點

2018 年 02 月 17 日

眺望下世代通訊 6G關鍵技術陸續出列

2021 年 07 月 01 日
前一篇
ARM全新影像處理器問世 VR/4K應用添柴薪
下一篇
是德推出全新eCall測試解決方案