Anritsu與藤倉株式會社合作，採用多種量測方法針對弱耦合型多芯光纖之核心間串擾進行比較測試，成功驗證各方法量測結果具有高度一致性。兩家公司將於2025年6月29日至7月3日在日本札幌舉行的國際光電與通訊會議中正式發表此項重要研究成果。
因應人工智慧與雲端服務應用日益普及，海底光纜與資料中心互連對光纖傳輸容量的需求急遽上升。現今光通訊系統主要仰賴單模光纖與先進的訊號最佳化技術，以實現高速資料傳輸。然而，隨著單一光纖的傳輸容量不斷推升，現有技術正逐步逼近其物理與效能極限。
因此，近期研發重點聚焦於在單根光纖中具備多個獨立傳輸核心的弱耦合型多芯光纖。儘管此類光纖可大幅提升傳輸容量，但由於各核心間光訊號可能產生光漏干擾而導致串擾現象，進而降低傳輸品質。此現象不僅受限於光纖設計與製程差異，也會因安裝環境而有所變化，因此需在實際場域中評估核心間串擾。目前已有多家公司與研究機構提出多種測量核心間串擾的方法，惟其結果仍有待充份驗證。
此次比較評估由Anritsu與Fujikura合作執行，針對弱耦合型多芯光纖進行核心間串擾量測，採用四種方法：其中兩種為光功率計量測，另兩種則透過Anritsu的光時域反射儀進行光纖損耗與反射分析。該測試所使用的Fujikura四芯弱耦合多芯光纖，具備125微米標準包層直徑，在1550 nm波長下，四種量測方法所得結果皆落在±1.0dB範圍內。因此，根據弱耦合多芯光纖的實際應用，如研發、製造以及安裝與維護，可依需求選用上述任一種量測方法，皆能確保所得結果間具備一致性與良好對應性。此外，這些結果亦將有助於推動弱耦合型多芯光纖量測方法的標準化進程。
Anritsu將持續致力於提供弱耦合多芯光纖測試解決方案，推動下一代光通訊技術的實際應用。
