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波形更新/觸發/長時記錄面面觀 數位示波器驗證/除錯迎新機

文‧葉品顯 發布日期:2020/05/21 關鍵字:示波器 ADC 克隆資料擷取技術 EMI

示波器一直以來在電子量測領域扮演著不可或缺的角色,正所謂量測為設計之母,所有的電子產品從研發設計到生產,示波器幫助了無數工程師與產品驗證除錯使產品得以順利生產並保障品質。示波器對於工程師來說,像是軍人打仗時使用的槍。各家廠商無不推陳出新,爭食全球數十億美元的示波器市場。

類比式示波器在過去有著無與倫比的真實波形呈現,讓工程師們特別喜愛它的快速波形,但其無法穩定觸發與儲存波形的限制;隨著電子產品的進步與報告量的增加而來的便是數位儲存式示波器被廣泛的使用。然而雖然數位式示波器有著良好的功能如多種觸發方式、自動量測、儲存介面與電腦連線到創新的PC base架構,但是其無法即時呈現真實的波形卻讓工程師們在驗證除錯上耗費更多時間。

現今各家廠商在頻寬,即時取樣率與紀錄長度外,提升垂直解析是各家廠商在數位即時示波器上爭相研發的目標,其目的是希望藉由提高波形解析(分辨率)來達成示波器精準測量的效果,高解析扮演著重要的精準量測的角色。

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