LTE-A標準頻寬升級 載波聚合技術扮演關鍵角色

LTE是應用於手機及數據卡(Modem Card)終端的高速無線通訊標準,它基於新設計的扁平化網路架構,並引入新的傳輸技術提升網路容量和速度。該標準由第三代夥伴計畫(3rd Generation Partnership...
2013 年 11 月 02 日

Thunderbolt/USB 3.0飆速 Ultrabook擴充基座商機湧現

Ultrabook擴充基座將為筆電業者帶來新一波商機。Thunderbolt、USB 3.0等高速傳輸介面新標準不僅大幅提高傳輸速率,亦可同步支援各種傳統資料和影像傳輸介面,將有助PC品牌廠將各種Ultrabook接口外移,實現更輕薄的設計,並以Thunderbolt或USB...
2013 年 11 月 02 日

CCM協定與點對點加密助陣 G.hn家庭網路安全滴水不漏

G.hn是國際電信聯盟(ITU)定義的新一代家庭網路技術標準,可經由電力線、電話線及同軸電纜等介質,實現高達1Gbit/s的資料傳輸速率,並採用類似WiMAX的計數器模式和密碼塊鏈資訊認證碼(CCM)協定,以及點對點的加密方式,以避免第三方竊聽。
2013 年 10 月 31 日

單晶粒整合CMOS/MEMS技術 CMEMS振盪器減小溫度漂移

以CMEMS技術生產的振盪器,正逐漸在市場上嶄露頭角。CMEMS技術係在單晶粒中整合CMOS和MEMS電路,以實現更高整合度的MEMS振盪器,可消除傳統雙晶粒MEMS振盪器和石英振盪器的諸多缺陷,並提高溫度和頻率穩定性,因而備受市場矚目。
2013 年 10 月 28 日

兼顧初/次級側MOSFET選用考量 LLC共振式轉換器提升可靠度

在眾多電源轉換器架構中,共振式轉換器基於其高效率、低電磁干擾的特點,可符合電源供應器的高效率要求,已廣為工程師所採用。如圖1所示,此一半橋LLC共振式轉換器,為近年來廣為工程師所使用的轉換器架構。然而,在LLC共振式轉換器中,除變壓器與共振電路的設計外,初級側及同步整流金屬氧化物半導體場效電晶體(MOSFET)在效率及可靠度的提升上,也扮演重要的角色。
2013 年 10 月 27 日

通道切換器助力 高速影音介面量測快又準

高速影音介面量測難度再升高。4K×2K影音風潮帶動高速影音傳輸介面需求,然而,在MHL、HDMI產品邁入下世代標準後,量測複雜度亦隨之提升,因此,業界提出採用切換器自動變換量測頻段和解析度的方案,可提高HDMI、DisplayPort等介面產品量測精準度與效率。
2013 年 10 月 26 日

MEMS供電連接器立功 可攜式醫療設備體積更精巧

微機電系統(MEMS)技術將加速醫療設備革新。可攜式醫療診斷設備對體積與功耗的要求日益嚴苛,促使設計人員開始採用新一代MEMS供電連接器,期在縮減傳統連接器尺寸的同時,兼顧產品性能與可靠性,將有助加速遠距醫療與家庭照護市場成形。
2013 年 10 月 24 日

確保LTE語音品質 VoLTE信令/通話測試不可少

VoLTE是4G時代的重要創新技術,但由於其網路架構從傳統的電路交換(CS)網路轉變成封包交換(PS)網路,因此通話品質極易受到影響。設計人員必須在研發階段,根據PTCRB和系統業者的要求項目進行嚴密測試,才能確保實際商用效能。
2013 年 10 月 21 日

光耦合器隔離功能發威 SPI /CAN匯流排資料不漏失

結構較為簡單的串列周邊介面(Serial Peripheral Interface, SPI)以及控制器區域網路(Controller Area Network, CAN)匯流排是目前普遍應用於汽車、工業控制與通訊應用領域的串列介面。為了提供隔離並將接地迴路造成的影響降到最低,光耦合器已經成為這些系統中採用的標準解決方案,原因是它可以確保資料的完整性同時提供高雜訊與惡劣環境下的電氣安全性。
2013 年 10 月 20 日

高精度OCXO助陣 LTE量測儀器可靠性大增

LTE蓬勃發展連帶使得OCXO重要性與日俱增。因應長程演進計畫(LTE)測試項目愈來愈複雜,量測設備製造商無不推出全新綜合無線通訊分析儀,並改採物理特性更穩定且抗老化程度更佳的恆溫槽控制石英晶體振盪器(OCXO),進一步提升LTE測試精準度與可靠性。
2013 年 10 月 19 日

低功耗MCU發威 智慧手表電池壽命更持久

延長電池使用壽命是智慧型手表的首要開發考量。為達成此一目標,設計人員須選用在工作/動態模式下功耗較低,且能同時維持高性能運作的微控制器(MCU),並導入快速喚醒功能,以便讓MCU盡可能處於休眠或閒置模式,進一步降低系統總體功耗。
2013 年 10 月 17 日

檢測與旁路電路雙管齊下 LED照明系統告別失效困擾

發光二極體(LED)燈具通常由多個LED燈串組成,一旦其中一顆LED發生開路失效,將使整串LED燈熄滅,導致光源變暗或不亮,因此設計人員必須利用檢測電路隨時掌握系統狀況,並提供旁路路徑讓燈串中的其他LED得以繼續工作,減少停機維修的時間。
2013 年 10 月 14 日