EDA環境銜接量測軟體 電子產品開發週期大幅縮短

作者: 小樵
2013 年 06 月 24 日
消費性電子產品汰換週期愈來愈短,且功能複雜度不斷提高,使得系統研發人員面臨縮短產品開發時間的嚴峻挑戰。所幸,現今自動化測試系統已開始導入開放式FPGA,將有助EDA開發環境與量測軟體的整合,讓工程師可同時進行系統設計與測試,加快研發時程。
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