MCU建構移動式紫外線偵測器 紫外線指數走著瞧

作者: 王先佑 / 謝振榆
2006 年 07 月 25 日

紫外線是可能的致癌因子,本文利用微控制器,根據紅斑作用光譜,設計出一套車用即時紫外線指數偵測器。此偵測器具有低成本、高移動性等優點,可在任意地點觀測,並可結合行動通訊技術與大型顯示器,成為移動式紫外線指數觀測站,且可應用於高爾夫球車、嬰兒車、陽傘、手錶、帽子等民生產品。
 

太陽光譜中,可見光之外的兩端是紫外線及紅外線,而紫外線是可見光之外屬於波長較短的一側,是看不見的光線。夏天的紫外線是一種可能的致癌因子,一天之內以上午10時至下午2時為紫外線強烈時段,出門時須做好防曬措施。紫外線指數(UV Index, UVI)0~2表示低量級、3~5表示中量級、6~7是過量級、8~10是危險級、11以上為極度危險級。本產品針對紫外線UV-B波段加以應用,可以即時偵測紫外線指數。
 

紫外線輻射量大約占太陽輻射整體能量的10%,根據波長可分為UV-A(400~320奈米)、UV-B(320~280奈米)和UV-C(280~190奈米)三個波段。
 

基本上波長愈短對人體的傷害愈大,但大氣的臭氧層對UV-C有極強的吸收力,因此UV-C不易抵達地表。至於UV-A會對人體產生的影響較小,造成人體傷害的主因是UV-B波段,因此國際上以紫外線指數為監測紫外線UV-B波段的評估指標。
 

紫外線與生物圈息息相關,對人類而言,適量照射紫外線可幫助人體產生維生素D3,曝曬過多的紫外線卻會造成傷害,輕者皮膚曬傷,重者抑制免疫系統,並可能導致皮膚癌。地球臭氧層長期遭受人為排放氟氯碳化物破壞,導致臭氧逐年減少,因此照射到地面的紫外線輻射量逐年增加。美國聯邦政府在2002年12月公布兩年一度的致癌物新報告,第一次被列為已知人類致癌物的還有廣譜紫色照射(包括太陽光源和人工光源)。
 

紫外線的應用有愈來愈多的趨勢,透過本產品紫外線指數儀表,將對紫外線的防護有基本的認識,除此之外可以應用至動物實驗、植物實驗、化妝品試驗、防曬係數試驗等。
 

利用特殊作用光譜曲線求得紫外線指數
 

根據輻射度學,量測紫外線指數的方法有二種,包括全光譜輻射量分析(布魯爾分光光譜儀)與特殊作用光譜的反應曲線。本文採用第二種方法的概念,利用人體紅斑作用光譜曲線的方式求得紫外線指數。
 

本系統具有以下功能:UV-B輻射通量量測、電子訊號放大電路、微處理機中央控制、類比數位轉換、數據傳輸電路,以及顯示電路。整合上述功能,成為車用即時紫外線指數偵測器。採用HT46R23微處理器,為盛群(Holtek)新式8位元感測器型微控制器,內嵌的類比/數位轉換器(A/D Converter, ADC)及脈衝寬度調變控制器數位/類比轉換器(PWM D/A Converter),能省略外部元件,使用在車用即時紫外線指數偵測器上可降低成本,生產過程更簡單,產品也更可靠。硬體系統結構如圖1所示,成品外觀如圖2所示。
 

本文的程式流程圖如圖3所示,首先設定初值(定義取樣率時間、ADC的解析度、訊號與控制腳位)。隨後規畫液晶螢幕顯示模式與設定,再將液晶螢幕畫面清除。緊接著定義1秒內測量16次,再將存放紫外線指數(UVI)的暫存器清空,並啟動ADC轉換,測量16次後計時器停止計數,再進行運算,將ADC所得之值轉換為紫外線指數,並取16次的平均值。隨後將紫外線指數轉換為ASCII碼,並顯示於顯示器上,同時依據所測量之值,依照表1顯示曝曬級數。
 

三種實驗校正方法各有所長
 

為測試本系統架構是否正常,以及量測結果是否準確,可採用三種測試方法,分別敘述如下。
 

定光源測試法
 

此法是將本作品以定距離置於醫療用等級紫外線B波段生物燈下(已知其光功率),再由數位電表量測輸入ADC的電壓值,並經由RS232連續取得電壓數據,將其數據輸入試算軟體轉換為紫外線指數,與該燈的紫外線指數進行分析比對,這是簡易快速的測試方法。實體示意圖如圖4所示。
 

此測試法可用於產品組裝完成後的初步測試,經過本測試正常,即可確保產品電路正常、感測器正常,以及零組件正常。此測試方法設備低廉,但缺點則是由於距離雖然固定,但還是會有光的漫射,造成紫外線輻射通量的不確定因素,故不適合擔任校正元件,只適合測試架構。
 

實際比對實驗法
 

由於紫外線指數是環境中的一項變數,若採用固定功率光源比對系統,將無法完整呈現其他環境變數對本系統的影響,因此本文採用實地量測比對,以期吻合實際環境的影響,量測出精準的紫外線指數。本方法的優點是符合使用環境,可正確測出本作品的優劣,唯一缺點則是不適合用於生產線上的測試。實際比對實驗法步驟如下:
 

1. 至環保署雲林斗六紫外線無人監測站附近選定一固定量測點。
 

2. 使用資料擷取器,以每秒抓取一個數據值再做小時累積值。
 

3. 實驗數據與斗六監測站做長期比對與校正。
 

4. 數據分析。
 

校正機台測試法
 

如圖5所示的紫外線校正機台,其功能是可直接校正本作品的光感測器,使用此校正機台可透過調整電路精確校正感測器本身的誤差(圖6),可使量測所得紫外線指數更為可靠,唯一缺點則是設備昂貴,且當使用到一定時限後,須送至國外與上一級標準進行校正。
 

以2006年4月12日實測數據為例,本系統量測所得的數據及換算之紫外線指數如表2,將實驗結果與環保署斗六站紫外線指數對照,可發現誤差度相當低(表3、圖7)。
 

紫外線來自太陽輻射,本系統受光面是平面,以下分析本系統與太陽光軸的關係。當本系統垂直光軸時其可表示為公式(1):
 

(詳細公式請見新電子244期7月號)
 

當系統傾斜時可表示為公式(2):
 

(詳細公式請見新電子244期7月號)
 

當系統離光軸時可表示為公式(3):
 

(詳細公式請見新電子244期7月號)
 

當系統傾斜且離軸時可表示為公式(4):
 

(詳細公式請見新電子244期7月號)
 

本文完成了即時紫外線指數偵測器,經實驗證明,其硬體架構實際可行,與環保署紫外線監測站比對後,其均方根誤差值為0.22個紫外線指數。
 

由於此套即時紫外線指數偵測器具有低成本、高移動性等優點,除了可在任意地點觀測之外,並可結合相關行動無線技術與大面板顯示技術,使其成為移動式紫外線指數觀測站,可於假日至各大景點進行觀測,並同步利用大面板顯示,告知遊客目前即時紫外線指數,使紫外線指數偵測更為靈活而實用。本系統尚可廣泛應用於高爾夫球車、嬰兒車、陽傘、手錶、帽子等民生消費電子工業中。
 

(本文作者王先佑就讀於高雄師範大學物理學系,謝振榆就讀於虎尾科技大學光電工程系)
 

(詳細圖表請見新電子244期7月號)
 

》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

整合技術發達 MEMS性能邁大步

2011 年 04 月 11 日

提升雲端設備節能效率 數位電源發展突飛猛進

2012 年 06 月 04 日

錫球封裝面臨微縮瓶頸 銅柱搭配錫銀封蓋前景看好

2016 年 06 月 04 日

量測/鑑定五時機精準判定 善用表面分析尋找製程缺陷

2021 年 09 月 04 日

遵循設計訣竅 汽車RF設計挑戰迎刃解

2020 年 02 月 20 日

善用背向分析技術 基板移除速找GaN晶片異常點(1)

2024 年 01 月 08 日
前一篇
挺進65奈米FPGA Altera打造可編程功耗電路
下一篇
矽瑪特元件支援GeCube個人錄影機 全功能PVR鎖定亞太市場