NI主辦線上2008年自動化測試高峰會

2008 年 05 月 14 日

美商國家儀器(NI)宣布舉辦年度的第五屆自動化測試高峰會(Automated Test Summit)。此次高峰會將針對自動化測試的趨勢與挑戰,進行相關的技術研討議程。2008年自動化測試高峰會將於6月5日透過網際網路舉行,屆時將涵蓋美洲、歐洲,與亞洲,並讓與會者能以多種語言向專家諮詢。在這全天的免費活動中,與會者可線上參加技術會議、現場即時Q&A討論,並與展覽區域的製造商進行互動。
 



全世界的測試與量測公司皆參與此盛會,包含Averna、Cal-Bay、英特爾(Intel)、微軟(Microsoft)與太克(Tektronix),均將分享相關技術經驗與最佳案例。美商國家儀器商業與科技部門的Mike Santori亦將主講「Optimizing Efficiency in Test」,議程主題包含降低軟體開發成本、硬體設計的最新趨勢、延長測試系統的使用壽命與測試設計介面討論。
 



與會者可線上進行報名,或至www.ni.com/testsummit取得完整的技術議程表。
 



美商國家儀器網址:www.ni.com/taiwan

標籤
相關文章

LSI推出先進通訊處理器

2007 年 05 月 28 日

意法半導體單晶片介面IC讓內建插卡槽手機更纖薄

2009 年 03 月 19 日

Tessera影像強化技術實現高品質錄影效果

2010 年 07 月 21 日

盛群推出雙節鋰電池移動電源MCU

2012 年 12 月 11 日

東芝供貨三相無刷馬達控制預驅動器IC

2019 年 12 月 20 日

IT x CT x OT資安聯防全面啟動 昇頻攜生態圈共創零信任資安防禦戰略

2024 年 09 月 26 日
前一篇
創造最高C/P值應用系統 無線感測網路實現最佳節能
下一篇
賽普拉斯推出全新線上IP函式庫